Characterization of ESD Stress Effects on SiC MOSFETs Using Photon Emission Spectral Signatures

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BSO - Titre

Characterization of ESD stress effects on SiC MOSFETs using photon emission spectral signatures

DOI

DOAI

Identifiant WoS

WOS:000403422200105

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Type d'accès

Non OA

Editeur

IEEE - Institute of Electrical and Electronics Engineers

Source

ANNUAL RELIABILITY AND MAINTAINABILITY SYMPOSIUM

ISSN

0149-144X

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0 - Sans notoriété

CNRS

Oui

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